￥電議型號：SE 400adv PV更新時間：2023-6-7 產品目錄
激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標準儀器，用于測量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質量控制。
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￥電議型號：Smart SE更新時間：2023-1-15 產品目錄
多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。
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￥電議型號：SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E更新時間：2023-1-3 產品目錄
semilab擁有全球zui優秀的電學和光學表征技術，產品被廣泛應用于光伏、半導體、科研以及平板測試領域。憑借先進的測試設備，為客戶的生產和質量監控提供一套完整的測試方案，在行業中始終處于領xian地位。
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￥電議型號：PSD200更新時間：2023-3-27 產品目錄
三維掃描儀又名光學抄數機，它采用光電投射單元將結構光面光投射在物體表面,結合計算機視覺技術、光電傳感技術、圖象處理技術、以及軟件控制等實現對物體面形一次性快速測量,采用旋轉物體或者掃描頭,變換掃描視角,基于多視角點云標記點的自動拼接技術,可完成物體全方位360度掃描.
￥電議型號：ME-210（-T）更新時間：2023-1-3 產品目錄
日本photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀，可以做到1000點/分鐘，6寸產品快可以在3分鐘內完成，不僅如此，me-210-t針對透明基板也可測量。
￥電議型號：G8390-25更新時間：2022-5-1 產品目錄
solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名：釩酸鈉；sodium vanadate(v)。分子式：navo3分子量：121.93cas＃：13718-26-8外觀：白色結晶或淺黃色結晶性粉末特性：溶解性：
￥12600.00型號：3322099更新時間：2020-9-27 產品目錄
jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀
￥電議型號：更新時間：2020-9-24 產品目錄
semilab se-2000 光譜型橢偏儀基于橢圓偏振測試技術，采用先進的旋轉補償器，結合光纖專利技術將偏振光信號傳輸至分段光譜優化的高分辨率單色儀或陣列式多通道攝譜儀，測得線偏振光經過樣品反射后的偏振態變化情況，并通過樣品光學模型的建立，計算出單層或多層薄膜結構的厚度、折射率和消光系數，實現精確、快速、穩定的寬光譜橢偏測試。
￥13580.00型號：3322099更新時間：2020-9-17 產品目錄
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￥400.00型號：更新時間：2020-7-5 產品目錄
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￥電議型號：SpecEL-2000更新時間：2020-6-15 產品目錄
specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀，主要用于測量平整和半透明的樣品，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。 橢圓偏光技術是一種非接觸式、非破壞性，以光學技術測量表面薄膜特性的方法。其檢測原理是：當一束偏振光經過物體表面或界面時，其偏振極化狀態會被改變。而橢偏儀就是通過探測樣品表面的反射光，來測量此改變（即反射光和入射光的振幅及相位的改變量），以決定表面特性薄膜的光學常數（n、k值）及膜厚。 specel-2000測試系統主要包括：寬帶光源、高性能線陣ccd光譜儀、導光器件、起偏器、樣品測試臺、檢偏器、光學增強元件及測量分析軟件。 specel-2000適合于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構特性，通常應用于有薄膜存在的地方，其應用
￥電議型號：SE1000更新時間：2020-6-3 產品目錄
se-1000型橢偏儀采用手動變角裝置來設定測試的入射角，樣品臺也采用手動方式，在測試的準確性和靈活性與se-2000保持一致的情況下，為客戶提供了一款極具競爭力的橢偏測試設備。另一方面，se-1000型全光譜橢偏儀采用了最新設計的光學部件以及最新版本的測試分析軟件（sam/sea），極大地提高了設備的運行穩定性和數據處理能力。
￥電議型號：UVISEL更新時間：2020-5-26 產品目錄
器簡介： 20多年技術積累和發展的結晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩定性的經典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進行最精確的測量。采用pem相位調制技術，與機械旋轉部件技術相比,能提供更好的穩定性和信噪比。
￥電議型號：ME-210/110更新時間：2020-5-21 產品目錄
這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創，并應用到橢偏儀的測試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領域領先世界，由此開發出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
￥電議型號：EM12-PV更新時間：2020-5-18 產品目錄
em12-pv用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。
￥666.00型號：GEL 2432T-1BC600更新時間：2019-3-28 產品目錄
穗鋮（廈門）科技有限公司設立于廈門經濟特區，專注于為客戶提供德國及歐美地區原產的各類工控機電設備、儀器儀表、零配件。確保100%原廠全新正品。產品覆蓋：工業設備、儀器儀表、過程控制、電機傳動、低壓電器、液壓、工具、傳感器、控制類產品的企業，產品應用廣泛。
￥電議型號：更新時間：2018-7-26 產品目錄
fft-在應用分析上，可除了橢圓儀原本的回歸分析，還增加了傅利葉的分析方式，可針對不同的材料與厚度使用，user使用上更為便利與快速.
￥電議型號：EMPro更新時間：2012-12-11 產品目錄
empro是針對高端研發和質量控制領域推出的極致型多入射角激光橢偏儀。empro可在單入射角度或多入射角度下進行高精度、高準確性測量�？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量快速變化的納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量
￥電議型號：EP3更新時間：2012-3-8 產品目錄
德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產品以及相應的配套儀器。
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